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Time Tagger 多路 時間相關單光子計數器 TDC 符合儀模塊

Time Tagger 多路 時間相關單光子計數器 TDC 符合儀模塊

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Time Tagger 多路時間相關單光子計數器 TDC 符合儀模塊 


 

 

簡介


     Time Tagger系列產品是具有獨特數據處理架構的時間數字轉換器,尤其適用于時間相關的單光子計數、時間間隔計數、符合計數和數字協議分析。Time Tagger應用廣泛,可用于包括量子技術、單分子顯微鏡、熒光相關光譜、動態光散射、激光測距、粒子物理和精確時間協議同步測試等諸多領域。

 

Time Tagger 產品特色:

硬件特色:
-最小時間抖動低至4ps(RMS抖動)
-最小時間組距為1 ps( bin width)
-4-144多通道同步測量
-具備虛擬通道擴展功能
-死時間低至2ns
-檢測上升沿和下降沿
-提供內置邏輯分析儀
-支持所有常見的SPAD,PMT和SNSPD
 
軟件特色:
- 界面清新簡潔,易于操作
- 支持on the fly數據處理模式,實時檢測所有的輸入信號
- 一鍵靈活定義輸入延遲,時間分辨率可達1ps
-支持處理高頻信號,提供軟件過濾模式,采集有效數據
-可同時進行多種測試模式:TDC, 符合計數,邏輯分析 ,自相關,互相關,多開始與多停止直方圖
-可根據你的需要拓展設置虛擬通道,如求和或符合
-提供Python,Matlab,LabVIEW,C ++,C#.NET開發庫,并定期更新, 適用Windows 7和10(32和64位),Linux系統。
 

Time Tagger系列產品規格參數


 

 

     Model

Time Tagger 20

Time Tagger Ultra

Timing precision

RMS jitter   (ps)

34

9

(Performance)

42 

(Value)

 

4 / 5 / 7 ps (High Resolution option)

FWHM jitter   (ps)

80

22 (Performance)

100 

(Value)

 

9 / 12 / 15 ps (High Resolution option)

Minimum bin width  (ps)

1

1

1

Processing capabilities

Number of inputs

8

418

Dead time   (ns)

6

2

Data transfer rate(M tags/s)

8.5

65

Burst memory  (M tags)

8

512

Maximum sync rate   (MHz)

167

500

Input signals

Input impedance(Ω)

50

50

Input signal range  (V)

0 to 3

±3

Maximum input level  (V)

0 to 5

±5

Trigger level range  (V)

0 to 2.5

0±2.5

Min pulse width   (ns)

1

0.5

Min pulse height(mV)

100

100

General parameters

Input connector

SMA

SMA

Data interface

USB 2.0

USB 3.0

Dimensions   (LxWxH mm)

145x100x50

190x140x60

 

產品應用案例


應用一 單光子檢測
 

 

 

   Swabian Instruments公司與舍布魯克大學一起利用室溫單光子探測器實現了創紀錄的低定時抖動。舍魯克的單光子探測模塊測量的雙光子符合TCSPC相關與Swabian Instruments新的Time Tagger Ultra HiRes中的預發布單元相結合,產生了總抖動為20.3 ps FWHM的結果。這與單個SPAD探測器的單光子定時分辨率12.5 ps FWHM相一致。

 

應用二 掃描熒光顯微鏡

  下圖展示的案例是一個圍繞單個Time Tagger 20構建的多功能可擴展掃描熒光顯微鏡系統。該系統不僅可用于測量光子的反聚束和熒光壽命/FLIM,還可直接用來獲取共聚焦圖像、電子自旋共振掃描、脈沖電子自旋共振以及后者的任意組合。不止于此:一個Time Tagger 20就可以讓您將系統輕松擴展至超分辨率光學成像,如STED或PALM。這種顯微鏡系統已被用于研究金剛石和碳化硅中的缺陷,此類研究已在多家知名研究機構中展開,如斯圖加特大學(德國)、慕尼黑大學(德國)、牛津大學(英國)和麻省理工學院(美國)。

   

只需要把您所有的原始信號全部連接到Time Tagger 20,然后,您就可以準備進行大量的實驗。 

應用領域


  1. 時間相關光子計數(TCSPC)
  2. 熒光壽命成像(FLIM)
  3. 單光子顯微鏡-固體缺陷、量子點、單分子
  4. 線性光學量子計算與光學量子電路
  5. 超高分辨率顯微鏡-STED,PALM和STORM
  6. 冷原子,EIT,里德堡原子
  7. 冷離子和離子阱量子計算
 

 

未找到相應參數組,請于后臺屬性模板中添加

Time Tagger 系列單光子計數器具有軟件定義數據采集的強大功能,值得你的實驗室擁有!Time Tagger系列是一款超靈活時間數字轉換器,配備流架構和多功能軟件引擎。適用于多種類型的數字數據采集測量,包括多種類型的時間相關光子計數。

 

Time Tagger 產品特色:

硬件特色:
-最小時間抖動低至3 ps(RMS抖動)
-最小時間組距為1 ps( bin width)
-8-144多通道同步測量
-具備虛擬通道擴展功能
-死時間低至2ns
-檢測上升沿和下降沿
-提供內置邏輯分析儀
-支持所有常見的SPAD,PMT和SNSPD
 
軟件特色:
- 界面清新簡潔,易于操作
- 支持on the fly數據處理模式,實時檢測所有的輸入信號
- 一鍵靈活定義輸入延遲,時間分辨率可達1ps
-支持處理高頻信號,提供軟件過濾模式,采集有效數據
-可同時進行多種測試模式:TDC, 符合計數,邏輯分析 ,自相關,互相關,多開始與多停止直方圖
-可根據你的需要拓展設置虛擬通道,如求和或符合
-提供Python,Matlab,LabVIEW,C ++,C#.NET開發庫,并定期更新, 適用Windows 7和10(32和64位),Linux系統。
 

     Model

Time Tagger 20

Time Tagger Ultra

Timing precision

RMS jitter   (ps)

34

9

(Performance)

42 

(Value)

 

4 / 5 / 7 ps (High Resolution option)

FWHM jitter   (ps)

80

22 (Performance)

100 

(Value)

 

9 / 12 / 15 ps (High Resolution option)

Minimum bin width  (ps)

1

1

1

Processing capabilities

Number of inputs

8

418

Dead time   (ns)

6

2

Data transfer rate(M tags/s)

8.5

65

Burst memory  (M tags)

8

512

Maximum sync rate   (MHz)

167

500

Input signals

Input impedance(Ω)

50

50

Input signal range  (V)

0 to 3

±3

Maximum input level  (V)

0 to 5

±5

Trigger level range  (V)

0 to 2.5

0±2.5

Min pulse width   (ns)

1

0.5

Min pulse height(mV)

100

100

General parameters

Input connector

SMA

SMA

Data interface

USB 2.0

USB 3.0

Dimensions   (LxWxH mm)

145x100x50

190x140x60

 

應用一 單光子單側
 

 

 
 
 
 

  Swabian Instruments公司與舍布魯克大學一起利用室溫單光子探測器實現了創紀錄的低定時抖動。舍魯克的單光子探測模塊測量的雙光子符合TCSPC相關與Swabian Instruments新的Time Tagger Ultra HiRes中的預發布單元相結合,產生了總抖動為20.3 ps FWHM的結果。這與單個SPAD探測器的單光子定時分辨率12.5 ps FWHM相一致。

 

掃描熒光顯微鏡的重新定義

  下圖展示的案例是一個圍繞單個Time Tagger 20構建的多功能可擴展掃描熒光顯微鏡系統。該系統不僅可用于測量光子的反聚束和熒光壽命/FLIM,還可直接用來獲取共聚焦圖像、電子自旋共振掃描、脈沖電子自旋共振以及后者的任意組合。不止于此:一個Time Tagger 20就可以讓您將系統輕松擴展至超分辨率光學成像,如STED或PALM。這種顯微鏡系統已被用于研究金剛石和碳化硅中的缺陷,此類研究已在多家知名研究機構中展開,如斯圖加特大學(德國)、慕尼黑大學(德國)、牛津大學(英國)和麻省理工學院(美國)。

   

  1. 時間相關光子計數(TCSPC)
  2. 熒光壽命成像(FLIM)
  3. 單光子顯微鏡-固體缺陷、量子點、單分子
  4. 線性光學量子計算與光學量子電路
  5. 超高分辨率顯微鏡-STED,PALM和STORM
  6. 冷原子,EIT,里德堡原子
  7. 冷離子和離子阱量子計算
暫未實現,敬請期待
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